放射治療M區(qū)支架

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M區(qū)支架主要測量機頭M區(qū)內(nèi)外泄露輻射，支架根據(jù)WS674的方法在不同位置的孔內(nèi)放射熱釋光劑量片來測量泄漏輻射劑量應(yīng)在模體中測量，模體

各邊比照射野至少大5cm；模體的深度至少比測量深度大 5 cm，入射表面垂直于參考軸，放置在正常治療距離。 在最大照射野下，給出的電子能量

分別測量雜散 X 射線占總吸收劑量的劑量比。

A.1. X 射線照射時相對表面劑量檢測方法 應(yīng)在模體中測量，模體各邊比照射野至少大5cm；模體的深度至少比測量深度大5cm，入射表面垂直于參考軸，探測器放置在正常治療距離。 應(yīng)從輻射束中移開所有不用工具就可取下的輻射束形成裝置，所有均整過濾器應(yīng)留在其規(guī)定位置上，在最大照射野下，對以下給出的電子能量分別測量相對表面劑量。

A.2. 透過限束裝置的泄漏輻射檢測方法

A.2.1. X 射線穿過限束裝置

A.2.1.1 測量條件如下： 

a）用至少 2 個十分之一值層的 X 射線吸收材料將射線出線口完全屏蔽。對非重疊式限束裝置，應(yīng)在最小照射野尺寸下測量； 

b）最大泄漏輻射處用輻射探測器測量，輻射探測器的橫截面應(yīng)≤1cm2； 

c）應(yīng)在模體中最大吸收劑量深度處測量。

A.2.2. 泄漏輻射測量按如下方法進行： 

a）將矩形照射野對稱地設(shè)定成最大（X 方向）乘最小（Y 方向）； 

b）用輻射探測器測量 24 個點，確定其平均值，求出相對于最大吸收劑量的百分比值； 

c）再對稱地設(shè)定最小（X 方向）乘最大（Y 方向）照射野，重復 A.2.2 b）的檢測；

d）對所有的 X 射線能量，重復上述測量。 如果有一個多元限束裝置，則打開可調(diào)節(jié)或可互換的限束裝置，以產(chǎn)生一個面積約為 300 cm2（約 18 cm×18 cm）的正方形照射野。把多元限束裝置關(guān)閉到與該照射野協(xié)調(diào)一致的最小值，用輻射探測器測量多元限束裝置屏蔽的區(qū)域。

A.3. 電子線穿過限束裝置

A.3.1. 測量條件如下： 

a）用10 mm與組織等效的材料作為建成模擬構(gòu)成，對所有尺寸的電子束限束器/限束系統(tǒng)，在對應(yīng)的最大和最小能量下，基于型式試驗中規(guī)定的電子能量所測數(shù)據(jù)的最不利組合下，在正常治 療距離處做射線攝影； 

b）在幾何照射周邊外 2cm處的線和 M區(qū)域邊界之間區(qū)域中定出最大吸收劑量點的位置； 

c）用一橫截面不大于 1 cm2的輻射探測器進行測量，探頭對于從輻射探測器下面的物質(zhì)散射的輻射要有足夠的防護。

·3·A.3.2. 按如下方法進行測量： 

a）在M區(qū)中，沿八條分割線(見圖 A.2)以 2 cm 的間隔，從幾何照射野周邊外 5 cm的點到 M 邊界內(nèi)，用輻射探測器測量； 

b）對每個電子束限束器/限束系統(tǒng)，確定輻射探測器讀數(shù)的平均值對應(yīng)參考軸上正常治療距離處最大吸收劑量的百分比值。

A.4. M 區(qū)域外的泄漏輻射測量（中子除外）

A.4.1 測量條件如下： 

a）基于型式實驗結(jié)果，在給出最大泄漏輻射的組合條件下； 

b）在所有的 X 射線能量和在最高的電子線能量下，確定最大泄漏輻射的點，在這些點上用輻射探測器測量。

A.4.2 按如下方法進行測量： 

a）在圖 A.3 中給出的 42 處位置上，用輻射探測器測量； 

b）用 23 個測量值的平均值確定泄漏輻射平均吸收劑量的百分比值。